分辨率测试卡是客观描述射线实时成像检测系统分辨率和实时成像检测图像分辨率（包括射线照相底片分辨率）质量指标的重要器具，本文简单介绍了分辨率测试卡的结构和测试原理。

分辨率测试卡的结构

1吸收体材料

分辨率测试卡的射线吸收体材料用铅箔或者与铅当量相当的金属箔。

2铅质栅条与线对

在一定宽度内，均匀地排列着若干条宽度相等、长度为20mm、厚度为0.05~0.1mm的铅箔柵条，柵条的间距等于栅条的宽度。一条栅条和与它相邻的一个间距构成一个线对，线对用LP表示。铅箔栅条采用激光技术（或其它技术）刻制而成。

3分辨率测试卡的构成

在一定宽度内，均匀地排列着若干组线对组，相邻两组的距离为3mm：若干组线对数按一定则（等比数列或等差数列）顺序排列，各组线对的栅条紧夹在两块厚度为1m的有机玻璃板之间，如图2所示。线对组成及图形分布结构按标准的规定。

分辨率测试卡的测试原理

1将分辨率测试卡紧贴在工件上（或胶片暗袋）离射线源较近一侧的表面上，按照一定的工艺条件进行透照，经暗室处理后在底片上能够观察到几组黑白相间的栅条影象，其中观察到栅条刚好分离的一组线对，则该组线对所对应的线对数即为底片（或照相系统）的分辩率。

2将分辨率测试卡紧贴在工件上离射线源较近一侧的表面上（或图象增强器输入屏表面中心区域），按照一定的工艺条件进行透照，在显示器上能够观察到几组黑白相间的栅条影象，其中观察到栅条刚好分离的一组线对，则该组线对所对应的线对数即为图像（或成像系统）的分辩率。